Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測厚儀

Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測厚儀，測試采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測厚儀通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測厚儀參數規格：

型號：CMI233+ECP(探頭)

品牌：英國牛津儀器Oxford

測量范圍：0-1.52mm（0-60mils）

測量精度：依照參考標準片±0.1um

單位：um/mils

尺寸：14.9X7.94X3.02cm 

重量：260g(含電池) 

電源：9V電池

注意：該儀器還可進行涂層側后，可選購探頭SMP-2

Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測厚儀檢測原理：

高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

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